2021年5月20日，“2020年度中国计量测试学会科学技术进步奖”颁奖仪式在北京举行。学会理事长蒲长城、清华大学金国藩院士、清华大学王志新院士，大连理工大学王立鼎院士、中科院地质与地球物理研究所李献华院士、哈尔滨工业大学谭久彬院士参加大会并为获奖人员颁奖。来自中央国家机关有关部委、高等院校、技术机构和企业的代表共300余人参加了颁奖大会。
2020年度中国计量测试学会科学技术进步奖，经资格审评、网络初评、会议复审、评审委员会终审答辩以及公示等5个环节，共评出29个获奖项目，其中一等奖9项，二等奖8项，三等奖12项。此次获奖项目技术前沿、涉及领域宽，充分体现了计量测试基础特点，服务国家量传溯源体系和国家重大工程，社会效益和经济效益显著。其中，由西安交通大学完成的“大长径比复合纳米探针可控制备及可溯源测量方法”解决了大深宽比微纳结构测量这个半导体芯片领域的严重“卡脖子”难题，该难题入选了2020年度“科创中国”先导技术榜单。
2013年4月10日，中国计量测试学会获得中华人民共和国科学技术部、国家科学技术奖励办公室批准，准予在计量测试领域开展科学技术进步奖评奖活动。多年来，学会坚持“尊重人才、尊重知识、鼓励创新”的宗旨，坚持“公平、公正、公开”的原则，共评出获奖项目246项，其中有6项荣获国家奖。
