2018年9月28日，由中国计量测试学会组织的中国计量科学研究院 “电学量子基标准核心芯片研制”科技成果鉴定会圆满结束。
      此次鉴定会在中国计量科学研究院进行。清华大学的金国藩院士、北京东方计量测试研究所的黄晓钉研究员、黑龙江省计量检定测试院的曹曙光研究员、清华大学的陈炜教授、湖南省计量检测研究院的李庆先研究员、航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所的朱岩教授、北京化工大学的王学伟研究员作为鉴定专家参与了该项目的鉴定工作。    
      鉴定会由金国藩院士主持。在鉴定会上，鉴定委员会听取了李劲劲研究员所作的技术总结报告、应用和查新报告、测试组黄晓钉组长作的测试报告。同时，审查了相关资料，并进行了现场考察。随后，鉴定专家与课题组成员开展了热烈地质询讨论。
       
      经过全体评审专家认真评审，一致认为： 该项目成果整体达到国际先进水平。